1. 电阻的测量的原理
电阻测量范围是零到无穷大。电阻测量可用欧姆表(万用表中的电阻档)测量的原理是电阻越大通过表头的电流越小，表头(电流计)指针转角越小表示的电阻值越大。电阻越小通过表头的电流越大，指针的转角也越大。表示的电阻值也越小。
2. 电阻的测量讲解
万用表判断电阻的好与坏方法：
1、利用万用表选择合适的挡位。为了提高测量精度，应根据电阻标称值的大小选择挡位。应使指针的指示值尽可能落到刻度的中段位置（即全刻度起始的20%~80%弧度范围内），以使测量数据更准确。根据电阻的标称读取标称阻值。打开万用表挡位开关，并根据电阻的标称阻值将万用表调到合适的欧姆挡位。
2、利用万用表校零。红、黑表笔短接，调整微调旋钮，使万用表指针指向0Ω的位置，然后再进行测试。使用指针式万用表检测时，还需要执行将表针校（调）零这一关键步骤，方法是将万用表置于某一欧姆挡后，红、黑表笔短接，调整微调旋钮，使万用表指针指向0Ω的位置，然后再进行测试。
3、用万用表测量与读数。将两表笔（不分正负）分别与电阻的两端引脚相接即可测出实际电阻值。测量时，待表针停稳后读取读数，然后乘以倍率，就是所测的电阻值。通常，指针式万用表的欧姆挡位分为五挡，其指针所指数值与挡位相乘即为被测电阻的实际阻值。在观测被测电阻的阻值读数时，两眼应位于万用表的正上方（即眼睛应垂直观测万用表），若表盘内有弧形反射镜，则看到指针与其镜中的影像重合时方可读数。若指针位于两条刻度线之间，则除了将刻度线所代表的阻值读出外，还应再估计一下刻度间的数值。总结：若万用表测得的阻值与电阻标称阻值相等或在电阻的误差范围之内，则电阻正常；若两者之间出现较大偏差，即万用表显示的实际阻值超出电阻的误差范围，则该电阻不良；若万用表测得电阻值为无穷大（断路）、阻值为零（短路）或不稳定，则表明该电阻已损坏，不能再继续使用。
3. 电阻率测量原理
测量半导体电阻率的方法很多，按是否与样品接触可以分为两类，即接触式和非接触式。常用的电阻率测量方法有直接法、二探针法、三探针法、四探针法、多探针阵列、扩展电阻法、霍尔测量、涡流法、微波法、电容耦合C-V测量等。对于体单晶的电阻率测量，生产中应用最普遍的是四探针法；对于半导体晶片的电阻率测量，微波法等非接触式测量方法由于使用方便、不损坏样品，因而应用也越来越多。
希望对您有帮助。
4. 电阻的测量的原理实验原理是什么
一般有伏安法测电阻,也就是在电阻两边加上电压表,同时电阻和电流表串联,考虑到电流表和电压表内阻的问题,一般有电流表内接法(电阻和电流表串联再和电压表并联)和外接法(电阻和电压表并联再和电流表串联).具体采用哪个方法,要看具体情况而定了. 一般来说电阻比较小的时候用外接法.比较大的时候用内接法. 在测量精度要求不高的时候随便用哪种啦. 如果只是要粗略的之后电阻阻值.直接用万用表接可以了.不过要记得红进黑出啊
5. 电阻测量电路原理
主要涉及到两个方面：1是IO口内部的电路拓扑。2是万用表电阻测量的原理。
芯片IO口都会放置ES clamp cell来防止静电击穿。ESD具体电路比较复杂，应对不同的情况有不同的设计，这里不多描述。基本原理可以理解成在电源和地之间串联反接两个二极管。
另一方面，万用表测量电阻的原理是从一个表笔流出一个mA级别的电流（我手里的fluke是1mA）然后检测电流电压计算电阻。
这样应该就能理解为什么万用表正接和反接测出的值不同了吧？红表笔接IO，对地的二极管反向截止；黑表笔接IO，二极管正向导通。测出的电阻值肯定是不同的。
6. 电阻测量原理图
万用表不能用来测漏电，但是我们可以用万用表电阻档来粗略判断线路有没有发生严重接地故障。
漏电/接地故障判断方法
把万用表打至电阻档（最好用大一点的量程），然后一个表笔接需要测量的部分，另外一个表笔接设备外壳。正常情况下，测出来的阻值应该是无限大；如果测得的电阻为零（或者电阻比较小），说明该设备有漏电现象。
比如我要测电饭煲是否漏电。先断电，然后万用表选择电阻最大档。再把万用表一个表笔接火线，另外一个表笔接接电饭煲外壳（没有油漆的位置）。最后观察测量结果，如果结果为无限大，说明不漏电；相反说明漏电。
建议：
万用表只能粗略判断一个设备是否有接地故障/严重漏电，像设备的零火线碰到金属外壳这种漏电情况是可以测量出来。但是因为绝缘老化而造成的漏电，万用表就无能为力了！要准确判断是否漏电，最好的办法就是采用兆欧表。
7. 电阻的测量的原理是
数字万用表测量电阻的主要原理是欧姆定律。数字万用表具有可调电阻和定电阻,这两种电阻的数字是不同的,但是我们已知的。根据欧姆定律,我们已经知道了电流、电压和内部电阻等数字的情况下,就能够获得被测电阻的大小。