1. 方块电阻测量实验报告
很好。
四探针电阻测试仪的特点：
1、主机采用世界先的先进电路设计，所测数值更精、更快、更准(一代为传统式电路，缺点:体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命)。
2、屏幕采用液晶显示(一代为只有数码管显示)。
3、匹配电脑接口及软件，让操作简便明了化(可直接连接电脑，电脑进行自动运算根据输入指一定厚度，自动比照并修正系数，使被测结果更确，数据可储藏或删除，利于使用方保存记录)。
4、二代的测试架采用自动传感装置，接近被测物体时实行自动减速，避免了被测物体的损耗和探头的磨损(领于国内市场上任何一款同类产品的测试架，老一代为手动)。
5、本仪器电压档为自动调整,电流档为半自动.不清楚被测物体阻值时,可按菜单先选择100MA电流档进行自动搜索(电流可由高至低自动搜索,不能由低向高搜索),当选择好电流档后,电压会自动进行调整.
6、本仪器测试电阻、电阻率、方块电阻时，标准系数为机器自带自调，无需另外手工调整，省去了原仪器的诸多麻烦。
7、测试探头为钨针，市场上多为高速钢针。
8、每次测量均有内置计算机自动进行温度补偿及电压电流矫正。
9、整机测量标准不确定度:≤ 2%(国内其它厂家误差为≤ 5% )
2. 方块电阻测试仪
关系式：方块电阻Rs=ρ/w （其中ρ为薄层材料的电阻率,w为薄层材料的厚度）.
注意：
1-薄层材料的电阻率必须是均匀的.如样品是扩散层,本关系式不成立；
2-假如采用直线四点探针法测试样品,必须在w/s小于0.6的情况下（其中s为探针间距）,使用本关系式.
3. 方块电阻测量方法
当一种材料（或膜层）确定以后，它的电阻率是确定的。
特征导通电阻，是一个电阻值，它与膜的截面积成反比，膜的厚度又决定了膜的截面积大小。所以导通电阻与膜的厚度有关；
方块电阻，是膜层的特征参数之一，它的大小与“材料电阻率与膜的厚度之比”成正比。所以方块电阻也与膜的厚度有关。
所以，特征导通电阻和方块电阻有区别也有联系。联系是：方块电阻越大，说明膜层越薄，则特征导通电阻越大。
4. 物理实验测电阻的实验报告
根据欧姆定律I=U/R，得R=U/I，所以要计算电阻就需要知道通过电阻的电流和电阻两端的电压。伏安法测电阻就是改变电阻两端的电压和通过的电流，然后计算出电阻，最终得出电阻是导体本身的一种性质，不随导体两端的电压的和通过的电流的改变而改变，只与材料本身，导体的长度和横截面积有关的结论。
5. 方块电阻测试方法
假设相同的4个电阻R联接成正方形，有两种方法求它们的总电阻。
①当电源接在正方形的对角线时，这时候相当于两个电阻串联相加后再并联，所以最后总电阻就是:2R与2R并联，最终总电阻是RΩ，
②如果电源接在其中一个电阻的两端，那么相当于一个R电阻与一个3R电阻并联，总电阻等于 3R/4
6. 太阳电池方块电阻的测量的实验报告
系统误差：
1、电流表与电压表内阻以及导线内阻接触电阻对实验的影响；
2、最小二乘法拟合中对I0的忽略导致的误差；
3、因为导线的接入导致遮光罩没有完全密封；
4、万用表及变阻箱造成的误差；
5、导线的接入电阻。
随机误差：
1、万用表读数不稳定；
2、导线的接入电阻；
3、温度及电源电压的频繁波动；
4、实验台面有微小振动导致光强并不恒定；
5、光源自身功率并非绝对恒定造成的误差